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    薄膜介質損耗儀

    簡要描述:薄膜介質損耗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。 介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。

    • 產品型號:HD-JD1
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2025-06-18
    • 訪  問  量:65

    詳細介紹

    品牌霍爾德?電子價格區間面議
    產地類別國產應用領域鋼鐵/金屬

    儀器簡介:

    介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。

    薄膜介質損耗儀的用途:

    薄膜介質損耗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。

    參考標準:

    u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法;

    u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;

    u ASTM-D150-介電常數測試方法;

    u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法。

    技術參數


    1信號源DDS數字合成 10KHZ-70MHz
    2采樣精度11BIT
    3測量范圍1-1000自動/手動量程
    4分辨率0.1
    5測量工作誤差<5%
    6電感測量范圍分辨率0.1nH
    7電感測量誤差<3%
    8調諧電容主電容30-540pF
    9電容直接測量范圍1pF~2.5uF
    10調諧電容誤差±1 pF或<1% 0.1pF
    11諧振點搜索自動掃描
    12合格預置范圍5-1000聲光提示
    13LCD顯示參數F,L,C,Q,Lt,Ct等
    14介質損耗系數精度萬分之一
    15介電常數精度千分之一
    16材料測試厚度0.1mm-10mm
    17技術儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數顯微測量裝置,直接讀值。



    薄膜介質損耗儀



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